Karlsruhe 2011 – wissenschaftliches Programm
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T: Fachverband Teilchenphysik
T 59: Spurkammern I
T 59.9: Vortrag
Montag, 28. März 2011, 18:50–19:05, 30.23: 2-0
Teststrahlmessungen mit hochgranularer Auslese einer Zeitprojektionskammer bei verschiedenen Pixelgrößen — •Martin Schultens1, Christoph Brezina1, Klaus Desch1, Jochen Kaminski1, Martin Killenberg3, Markus Köhli2, Thorsten Krautscheid1, Uwe Renz2 und Markus Schumacher2 — 1Physikalisches Institut der Universität Bonn — 2Physikalisches Institut der Universität Freiburg — 3CERN
Mikrostrukturierte Gasdetektoren wie Gas Electron Multipliers (GEMs) bieten bei der Auslese von Zeitprojektionskammern (TPCs) den Vorteil einer zweidimensionalen Gasverstärkungsstruktur und ermöglichen eine hohe Ortsauflösung. Durch die Kombination von GEMs mit Pixelchips lässt sich das Auflösungsvermögen gegenüber einer Pad-Auslese weiter erhöhen. Die Größe der Pixel ist dabei entscheidend für die Ortsauflösung und die Effizienz des Primärelektronennachweises.
In Teststrahlmessungen wurden Daten mit einem TPC-Prototypen genommen, dessen Driftstrecke 26 cm beträgt. Als Gasverstärkungsstruktur wird ein Stapel aus drei GEM-Folien verwendet. Die Auslese des Detektors basiert auf dem Timepix-Chip. Dabei wurden nachbearbeitete Chips mit vergrößerten Metallpads verwendet. Vier verschiedene Chips mit Padgrößen zwischen 55×55 µm2 und 275×275 µm2 konnten unter verschiedenen Bedingungen getestet werden. Es wurde untersucht, ob diese Chips bei geringeren Gasverstärkungen als nicht nachbearbeitete Timepix-Chips betrieben werden können, und dennoch ein ausreichendes Auflösungsvermögen bieten. Die Resultate dieser Teststrahlmessungen werden in diesem Vortrag vorgestellt.