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T: Fachverband Teilchenphysik

T 66: Halbleiterdetektoren VI

T 66.2: Talk

Friday, April 1, 2011, 14:15–14:30, 30.22: 022

CEC Messkampagne: Materialqualifikation und erste Ergebnisse — •Christian Scharf, Joachim Erfle, Thomas Poehlsen, Georg Steinbrück und Robert Klanner — Institut für Experimentalphysik, Universität Hamburg

Als Vorbereitung für das SLHC-Upgrade des CMS-Spurdetektors wurden von der Firma Hamamatsu etwa 1000 Siliziumdioden sowie zahlreiche Pixel- und Streifendetektoren und Teststrukturen mit verschiedenen Si-Kristallen und Dicken hergestellt. Auf der Basis der Ergebnisse soll eine Empfehlung für die geeignetsten Sensoren ausgesprochen werden. Die Ergebnisse von bestrahlten und unbestrahlten Strukturen werden vorgestellt und erste Schlüsse gezogen.