Karlsruhe 2011 – wissenschaftliches Programm
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T: Fachverband Teilchenphysik
T 66: Halbleiterdetektoren VI
T 66.5: Vortrag
Freitag, 1. April 2011, 15:00–15:15, 30.22: 022
CCE- und TCT-Messungen an bestrahlten Dioden aus einer Vielzahl von Materialien, Dicken und Fluenzen — Tobias Barvich, Wim de Boer, Alexander Dierlamm, •Robert Eber, Karl-Heinz Hoffmann, Thomas Müller, Martin Frey und Pia Steck — Institut für Experimentelle Kernphysik (EKP), KIT
Im Rahmen der groß angelegten Studie zur Ermittlung der zukünftigen Sensortechnologie des CMS-Spurdetektor nach dem Upgrade des LHC werden TCT- und CCE-Messungen an Dioden eines Herstellers mit verschiendenen Grundmaterialien und verschiedenen Dicken gezeigt. Erste Ladungssammlungseffizienzmessungen an Dioden, welche mit Fluenzen größer F=1014Neq/cm2 mit Protonen, Neutronen, oder mit beiden Teilchensorten gemischt bestrahlt wurden, geben einen ersten Eindruck über die Strahlenhärte der verwendeten Materialien. Weiterhin lassen sich Trappingzeiten und elektrische Felder, welche das Ladungssammlungsverhalten maßgeblich beeinflussen, aus den aufgenommenen TCT-Messungen bestimmen. Die Messungen spiegeln ebenso das Verhalten bekannter Messungen wieder, wie sie auch Unterschiede zwischen einzelnen Dicken und Siliziumherstellungsverfahren herausstellen.