Berlin 2012 – wissenschaftliches Programm

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UP: Fachverband Umweltphysik

UP 9: Poster session

UP 9.19: Poster

Mittwoch, 28. März 2012, 18:30–19:15, Poster F

Referenzprobenfreie quantitative Röntgenfluoreszenzanalyse unter streifendem Einfall an deponierten Nanopartikeln — •Falk Reinhardt¹, Burkhard Beckhoff¹, Harald Bresch² und Stefan Seeger² — ¹Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestr. 2-12, 10587 Berlin — ²Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung, Unter den Eichen 87, IV.24, 12205 Berlin

Durch die Vielzahl möglicher Quellen und Anwendungen kommen in immer höherem Maße Nanopartikel in unserer Umwelt vor. Damit wächst auch der Bedarf für zuverlässige quantitative Analysemethoden, die ohne Referenzproben auskommen, da die Anzahl verschiedener nanoskaliger Referenzmaterialien dem Bedarf immer weniger gerecht wird. Röntgenfluoreszenzanalyse unter streifendem Einfall (GIXRF) bietet bei Nachweisgrenzen im Femtogrammbereich die Möglichkeit, referenzprobenfrei quantitative und zerstörungsfreie Elementanalyse durchzuführen. Dabei kann zusätzlich das in dieser Messgeometrie auftretende stehende Röntgenwellenfeld (XSW) genutzt werden, um weitere Informationen über die Proben zu erhalten. Um die Zuverlässigkeit von GIXRF weiter zu verbessern, wurden im Laboratorium der PTB am Elektronenspeicherring BESSY II Messungen durchgeführt, um die Wechselwirkung der deponierten Partikel mit dem XSW genauer zu untersuchen. Dazu wurden verschiedene Nanopartikel größenselektiert und mit kontrollierter Massenbelegung aus der Aerosolphase auf Silizium-Oberflächen deponiert und energieabhängige Einflüsse auf die quantitativen Ergebnisse untersucht.