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Göttingen 2012 – scientific programme

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 64: Halbleiterdetektoren: Forschung und Entwicklung 2

Tuesday, February 28, 2012, 16:45–19:00, ZHG 001

16:45 T 64.1 Optical test stand for SiPM characterisation — •Benjamin Glauß, Thomas Hebbeker, Carsten Heidemann, and Markus Merschmeyer
17:00 T 64.2 Studies on afterpulses and saturation of SiPM with fast UV light pulses — •Marco Szalay
17:15 T 64.3 Study of detection efficiency distribution and areal homogeneity of SiPMs — •Michal Tesař, Christian Jendrysik, Frank Simon, Jelena Ninković, Hans-Günther Moser, and Rainer Richter
17:30 T 64.4 Track Fitting based on Broken Lines for the MU3E Experiment — •Moritz Kiehn, Niklaus Berger, and Andre Schöning
17:45 T 64.5 Charakterisierung von HV-MAPS — •Ann-Kathrin Perrevoort, Ivan Peric und Dirk Wiedner
18:00 T 64.6 Pixel sensors capacitance determination with PixCap chip — •Miroslav Havranek, Fabian Hügging, Hans Krüger, and Norbert Wermes
18:15 T 64.7 Der Galatea Teststand - Analyse von Oberflächeneffekten in koaxialen n-Typ Germanium Detektoren — •Sabine Irlbeck
18:30 T 64.8 Determination of the crystal axes in segmented germanium detectorsIris Abt, Allen Caldwell, Bela Majorovits, and •Oleksandr Volynets
18:45 T 64.9 Ladungssammlung an der Si-SiO2-Grenzschicht in Silizium Streifensensoren vor und nach 1 MGy Gammastrahlung — •Thomas Pöhlsen, Robert Klanner, Sergej Schuwalow, Jörn Schwandt und Jiaguo Zhang
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