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T: Fachverband Teilchenphysik

T 66: Halbleiterdetektoren: Strahlenhärte und neue Materialien

T 66.7: Talk

Thursday, March 1, 2012, 18:15–18:30, ZHG 001

Messung an hochbestrahlten pCVD Diamanten — •Lars Graber, Jörn Große-Knetter, Arnulf Quadt und Jens Weingarten — II. Physikalisches Institut, Georg-August-Universität Göttingen

Für die Messung der Eigenschaften hochbestrahlter Diamanten als Sensormaterial für Spurdetektoren wurde ein Teststand aufgebaut. Dieser ermöglicht es durch radioaktive Quellen im Diamanten deponierte Ladungen zu messen. Die Ladungssammlung wurde durch Bestimmung der charge collection distance (CCD) bei unterschiedlichen Versorgungsspannungen verifiziert.

Die Kapazität der Diamanten wurde in Abhängigkeit der Versorgungsspannung bis ± 1,5 kV gemessen. Hierbei zeigten sich Differenzen zwischen dem Verhalten unbestrahlter und hochbestrahlter Diamanten. Der Verlauf der Kapazität bei einer hochbestrahlten Probe kann nicht durch Defektdotierungen erklärt werden. Die bisherigen Ergebnisse und nächsten Schritte werden präsentiert und diskutiert.