Göttingen 2012 – wissenschaftliches Programm

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 69: Halbleiterdetektoren: Modulbau und Test

T 69.2: Vortrag

Dienstag, 28. Februar 2012, 17:05–17:20, ZHG 005

Leistungsfähigkeit und Testergebnisse des IBL Auslesechip FE-I4 — •Malte Backhaus¹, Marlon Barbero¹, Jörn Große-Knetter², Fabian Hügging¹, Jens Janssen¹, Hans Krüger¹, David-Leon Pohl¹, Jens Weingarten² und Norbert Wermes¹ — ¹Physikalisches Institut, Nußallee 12, 53115 Bonn — ²II. Physikalisches Institut, Friedrich-Hund-Platz 1, 37077 Göttingen

Für das geplante ATLAS Pixeldetektor Upgrade Insertable B-Layer (IBL) wurde ein neuer Auslesechip entwickelt. Der erste Prototyp (FE-I4A) mit einer vollständigen Pixelmatrix und Peripherie wurde im September 2010 submittiert und seit Oktober 2010 ausgiebig alleine und als hybrider Pixeldetektor in Prototypmodulen mit verschiedenen Sensorkonzepten getested. Für die Experimentversion (FE-I4B) wurden aufgrund der Testergebnisse minimale Änderungen implementiert und Teststrukturen entfernt. Im Vortrag werden die Leistungsfähigkeit des FE-I4A und auch die Mängel erläutert und die resultierenden Änderungen in FE-I4B zusammengefasst. Ein weiterer Schwerpunkt des Vortrags ist die Entwicklung und Struktur des Testsystems USBpix, dass für alle Charakterisierungen des FE-I4A und der Prototypmodule genutzt wurde und momentan auf sämtliche Produktionstests von IC Tests auf Waferlevel bis zu Modultests vorbereitet wird.