Mainz 2012 – wissenschaftliches Programm

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DD: Fachverband Didaktik der Physik

DD 24: Praktika und neue Praktikumsversuche 3 (moderne Physik)

DD 24.3: Vortrag

Mittwoch, 21. März 2012, 14:40–15:00, P 13

Experimente mit dem Rasterkraftmikroskop — •David Kuhn, Manuel Schaupp, Antje Bergmann und Kurt Busch — Institut für Theoretische Festkörperphysik, Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Seit nun über 25 Jahren macht es das Rasterkraftmikroskop (Englisch: Atomic force microscope, kurz AFM) möglich, Nanostrukturen abzutasten und sie so sichtbar zu machen. Dabei fährt man mit einer sehr kleinen Spitze an einer feinen Nadel (Cantilever) über die Probe und kann so über die Verbiegung des Cantilevers ein Bild des Oberflächenprofils erstellen.

Im Schülerlabor der Physik am Karlsruher Institut für Technologie werden mit einem preisgünstigen, selbst aufgebauten AFM Versuche mit verschiedenen Probenoberflächen durchgeführt. Der einfache und anschauliche Aufbau ermöglicht es Schülern und Studenten, das AFM selbst zu bedienen. Es besitzt ein Auflösungsvermögen von wenigen Nanometern und eröffnet so einen Blick auf Oberflächenprofile mit Größenordnung jenseits optischer Mikroskope.

Von der Datenspur einer CD bis zum Facettenauge eines Nachtfalters werden eine Vielzahl interessanter Oberflächen untersucht und gleichzeitig das Grundprinzip des Rasterkraftmikroskops und die Interpretation der Ergebnisse erlernt.