Dresden 2013 – wissenschaftliches Programm

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 61: Halbleiterdetektoren: Forschung und Entwicklung 1

T 61.2: Vortrag

Montag, 4. März 2013, 11:15–11:30, GER-007

Leistungsfähigkeit und Testergebnisse von IBL Produktionsmodulen — •Malte Backhaus, Laura Gonella, Fabian Hügging, Jens Janssen, Theresa Obermann, David-Leon Pohl, Fabian Schwartzkopff und Norbert Wermes — Physikalisches Institut, Universität Bonn, Nußallee 12, 53115 Bonn

Für das geplante ATLAS Pixeldetektor Upgrade Insertable B-Layer (IBL) wurde ein neuer Auslesechip entwickelt. Der erste Prototyp (FE-I4A) und die Produktionsversion (FE-I4B) wurden intensiv getestet und charakterisiert. Beide Versionen zeigen eine hohe Leistungsfähigkeit. Sowohl der nackte Front-End Chip als auch hybride Pixelmodule mit verschiedenen Sensortechnologien wurden getestet. Für die IBL Produktion wurde ein hybrides Design aus planaren Doppelchipmodulen und Singlechipmodulen mit 3D-Silizium Sensoren zweier Hersteller ausgewählt. Beide Modulkonzepte wurden im Detail charakterisiert. Der Schwerpunkt des Vortrages wird nach einer Vorstellung des Testsetups und einem Überblick der Modulkonzepte auf den Ergebnissen der Produktions- und Qualitätssicherungstests liegen.