Dresden 2013 – wissenschaftliches Programm
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T: Fachverband Teilchenphysik
T 65: Halbleiterdetektoren: Forschung und Entwicklung 5
T 65.4: Vortrag
Donnerstag, 7. März 2013, 17:30–17:45, GER-007
Bestimmung der Strahlungslänge X0 über Winkelverteilungen aus Mehrfachstreuungen — Ariane Frey, Benjamin Schwenker und •Ulf Stolzenberg — II. Physikalisches Institut, Georg-August-Universität, Göttingen
Die Genauigkeit der Trackparameter wie z.B. die Hitposition des Teilchens und die Trackrichtung hängen maßgeblich von der Strahlungslänge X0 und den damit verbundenen Auswirkungen durch Mehrfachstreuung ab. Aus diesem Grund ist es wichtig die Strahlungslänge von Detektorelementen möglichst genau zu bestimmen. Die hier beschriebene datenbasierte Methode beruht darauf, dass die Breite der Streuwinkelverteilung der Teilchen nach dem Passieren von Materie von X0 abhängig ist. Daher ist es möglich auch im Detektorbetrieb aus den ermittelten Teilchenspuren ein Strahlungslängen-Profil der Detektorelemente zu erstellen.
Hier wird zunächst mittels MC Simulationen ein solches Profil produziert. Dann wird untersucht, welche lokalen Strahlungslängenvariationen mit dieser Methode noch messbar sind. Dabei spielen vor allem die Strahlenergie, die Auflösungsfähigkeit des Detektors und der verwendete Rekonstruktionsalgorithmus eine Rolle. Anschließend wird die Methode auf Test Beam Daten von DESY und CERN angewandt, um Module eines realen Detektors zu vermessen.