Hannover 2013 – wissenschaftliches Programm
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Q: Fachverband Quantenoptik und Photonik
Q 29: Photonics III
Q 29.3: Vortrag
Dienstag, 19. März 2013, 14:30–14:45, F 342
Interferometrische Messung von Fluktuationen der Parameter optischer Frequenzkämme — •Erik Benkler, Felix Rohde und Harald R. Telle — Physikalisch-Technische Bundesanstalt, D-38116 Braunschweig
Die Charakterisierung der Rauscheigenschaften modengekoppelter Laser liefert wichtige Informationen für messtechnische Anwendungen sowie für die Optimierung solcher Laser. Hierbei sind insbesondere Fluktuationen der korrelierten Parameter ihres kammförmigen Emissionsspektrums, d. h. der optischen Trägerfrequenz νc, der Repetitionsrate frep, und der carrier-envelope-Frequenz νCEO von Interesse. Trägerfrequenz-Fluktuationen können mittels eines nicht-balancierten Interferometers als Frequenzdiskriminator gemessen werden. In diesem Beitrag wird dieser Ansatz übertragen auf die Messung der entsprechenden Gruppeneigenschaft, d.h. auf die der frep-Fluktuationen. Hierzu werden die νc-Fluktuationen simultan bei zwei spektral möglichst weit auseinander liegenden Frequenzkamm-Intervallen interferometrisch gemessen. Mit der Kenntnis deren Frequenzabstands sowie der Korrelation zwischen den νc-, νCEO- und frep-Fluktuationen können dann die frep- bzw. νCEO-Fluktuationen berechnet werden. Durch die hier demonstrierte Messmethode, die bei einer hohen effektiven Oberwellenordnung von frep arbeitet, wird eine große Messempfindlichkeit erreicht, die im Prinzip nur durch das technische Rauschen (z. B. Akustik, inelastische Streuprozesse) der zur Verzögerung im Interferometer verwendeten Glasfaser begrenzt wird. Vorteilhaft ist außerdem, dass keine ultraschnellen Photodetektoren benötigt werden.