Hamburg 2016 – wissenschaftliches Programm
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T: Fachverband Teilchenphysik
T 53: Halbleiterdetektoren III (Strahlenhärte)
T 53.2: Vortrag
Dienstag, 1. März 2016, 17:00–17:15, VMP8 HS
Strahlenhärte von n-in-p Siliziumstreifensensoren für das CMS-Phase-II-Upgrade — Felix Bögelspacher, Alexander Dierlamm, •Marius Metzler, Thomas Müller, Martin Printz, Daniel Schell und Pia Steck — IEKP
Im Jahre 2024 soll das Phase-II-Upgrade des Large Hadron Collider (LHC) zum HL-LHC und damit auch des Compact Muon Solenoid Detektors (CMS) umgesetzt werden, welches mit einer Steigerung der Luminosität von 1· 1034 auf 5· 1034 cm−2s−1 einhergehen wird. Dies entspricht bei einer Laufzeit von 10 Jahren bei geschätzten 3000 fb−1 einer Fluenz von 1· 1015 neqcm−2, die man etwa 20 cm Entfernung vom Zentrum erwartet. Dementsprechend muss die Widerstandsfähigkeit des Spurdetektors gegenüber Strahlung angepasst werden.
Dieser Vortrag wird ausschließlich Messungen von n-in-p-Streifensensoren beinhalten. Im Detail heißt das, dass verschiedene Testsensoren unterschiedlichen Designs auf ihre elektrischen Eigenschaften vor und nach Bestrahlung bis 1· 1015 neqcm−2 sowie ihre Ladungssammlungseffizienz untersucht werden.