Würzburg 2018 – wissenschaftliches Programm
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T: Fachverband Teilchenphysik
T 66: Halbleiterdetektoren / Strahlenhärte II
T 66.2: Vortrag
Mittwoch, 21. März 2018, 16:45–17:00, Z6 - SR 2.010
Studie zur Strahlenhärte von n-in-p Siliziumstreifensensoren für das Phase-2-Upgrade des CMS-Experiments — Thomas Müller, Alexander Dierlamm, Marius Metzler, •Jan-Ole Gosewisch, Pia Steck und Felix Bögelspacher — Institut für Experimentelle Teilchenphysik, Karlsruher Institut für Technologie
Der LHC wird mit dem nächsten Upgrade eine deutlich höhere Luminosität haben. Damit steigt auch die Strahlenbelastung auf die Detektoren. Dieser Vortrag ist auf die Siliziumstreifensensoren im äußeren Spurdetektor des CMS-Experiments fokussiert. Um die bestmöglichen Eigenschaften nach Bestrahlung zu erhalten, wird nach der optimalen Sensordicke gesucht. Die Dicke wirkt sich u.a. wesentlich auf den Leckstrom und die Ladungssammlung der Sensoren aus. Favorisiert sind aktive Dicken von 200 µm und 240 µm. Beim HL-LHC wird eine Fluenz von bis zu 1015neq/cm2 erwartet. Um entsprechende Strahlenschäden zu simulieren, wurden Testsensoren mit Protonen und Neutronen mit einer Fluenz zwischen 1013neq/cm2 und 1015neq/cm2 bestrahlt. Es werden Messungen zu den Sensoreigenschaften, wie beispielsweise IV/CV-Charakteristik, Streifenparameter und Ladungssammlung vorgestellt.