Bonn 2020 – wissenschaftliches Programm

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 57: Silicon strip detectors

T 57.5: Vortrag

Mittwoch, 1. April 2020, 17:30–17:45, H-HS XVII

Effizienzstudien von n-in-p Silizium-Makropixelsensoren für das Phase-2-Upgrade des CMS-Experiments — Tobias Barvich, Alexander Dierlamm, Alexander Droll, Ulrich Husemann, Thomas Müller, Jan-Ole Müller-Gosewisch, Andreas Nürnberg, Hans-Jürgen Simonis und •Florian Wittig — Institut für Experimentelle Teilchenphysik (ETP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Im Rahmen des Phase-2-Upgrades des CMS-Experiments wird der äußere Spurdetektor komplett ausgetauscht. Es kommt ein neuer Modultyp zum Einsatz, der in der Lage ist Teilchen mit hohen Transversalimpulsen auf Modulebene zu identifizieren. Dies ermöglicht einen direkten Beitrag des Spurdetektors zur ersten Triggerstufe des CMS-Experiments (Level-1-Trigger).
Für eine Variante, dem PS-Modul, kommen siliziumbasierte n-in-p Streifen- und Makropixelsensoren zum Einsatz. Letztere bilden mit ihrer Streifenlänge von etwa 1,5 mm einen Kompromiss zwischen Pixel- und Streifensensoren und weisen somit eine verbesserte Ortsauflösung als reine Streifensensoren auf.
In diesem Vortrag werden Ergebnisse aus Teststrahlmessungen am Deutschen Elektronen-Synchrotron (DESY) in Hamburg mit Prototypen der Makropixelsensoren gezeigt und diskutiert.