Dortmund 2021 – wissenschaftliches Programm
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T: Fachverband Teilchenphysik
T 85: Silicon Strip Detectors II
T 85.5: Vortrag
Donnerstag, 18. März 2021, 17:00–17:15, Tj
Qualitätskontrolle von Siliziumsensoren für das Phase-2-Upgrade des CMS-Experiments — •Florian Wittig, Tobias Barvich, Alexander Dierlamm, Ulrich Husemann, Roland Koppenhöfer, Stefan Maier, Thomas Müller, Jan-Ole Müller-Gosewisch, Marius Neufeld, Andreas Nürnberg, Hans Jürgen Simonis, Julian Stanulla und Pia Steck — Institut für Experimentelle Teilchenphysik (ETP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Im Rahmen des Phase-2-Upgrades des CMS-Experiments wird der äußere Spurdetektor komplett ausgetauscht. Im neuen Spurdetektor kommen drei unterschiedliche Varianten von Siliziumsensoren zum Einsatz. 2S-Sensoren, mit einer Fläche von 10×10 cm2, die in 2032 Streifen der Länge 5 cm segmentiert sind, sowie die halb so großen PSs-Sensoren mit insgesamt 1920 Streifen der halben Länge. Die dritte Sensorvariante, die PSp-Sensoren, bildet mit etwa 30.000 Makropixeln mit 1,5 mm Länge, verteilt auf einer Fläche von 5×10 cm2, einen Kompromiss zwischen Streifen- und Pixelsensoren.
Die Serienproduktion der Sensoren hat Mitte 2020 begonnen und wird bis in das Jahr 2024 andauern. Innerhalb dieses Zeitraums werden insgesamt etwa 30.000 Sensoren produziert. Die Qualitätssicherung der Sensoren ist hierbei von großer Bedeutung, um deren uneingeschränkte Funktionalität im Detektor zu gewährleisten.
Dieser Vortrag gibt einen Überblick über die Qualitätskontrolle der Streifensensoren während der Serienproduktion.
Es wird das allgemeine Vorgehen beschrieben und erste Messergebnisse diskutiert.