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DS: Dünne Schichten

DS 13: Mechanische und elektrische Eigenschaften

DS 13.4: Talk

Tuesday, March 18, 1997, 11:00–11:15, H 55

Transversale Thermospannungen in dünnen (1 1 9)-orientierten Bi₂Sr₂CaCu₂O_8+δ-Filmen — •P. Haibach¹, U. Frey¹, F. Lankes², K. Renk² und H. Adrian¹ — ¹Institut für Physik, Johannes Gutenberg–Universität Mainz, 55099 Mainz — ²Institut für angewandte Physik, Universität Regensburg, 93040 Regensburg

Dünne Bi₂Sr₂CaCu₂O_8+δ-Filme wurden mittels DC-Magnetron-Sputtern bei 730^∘C und 4·10⁻² hPa Sauerstoff-Partialdruck mit einer Depositionsrate von ca. 200 Å/min hergestellt. Als Substrate wurden vicinal geschnittene (1 1 0) SrTiO₃-Einkristalle verwendet, bei welchen die Oberfläche um 5^∘ gegenüber der (1 1 0)-Ebene verkippt ist. In Vierkreisgeometrie durchgeführte Röntgenuntersuchungen an den Filmen zeigen eine einheitliche Verkippung der c-Achse um 37^∘ gegenüber der Substratnormalen und die (0 0 ℓ)-Reflexe der Phasen Bi-2212 und Bi-2223. Die parallel und senkrecht zur Verkippungsrichtung gemessenen spezifischen Widerstände unterscheiden sich um einen Faktor 13.5. Die supraleitende Sprungtemperatur beträgt 47 K. Durch Bestrahlung der Filme mit gepulstem Laserlicht (XeCl-Excimerlaser, λ=308 nm, Pulsdauer 33 ns) wurden Temperaturgradienten senkrecht zur Filmoberfläche erzeugt. Bei Energiedichten von 15 mJ/cm² wurden parallel zur Filmoberfläche transversale Thermospannungssignale von bis zu 355 mV gemessen, welche unter Wärmediffusion in das Substrat innerhalb von 130 ns abklangen.

Dieses Projekt wird gefördert durch BMBF FZ 13N6916.