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DS: Dünne Schichten

DS 25: Magnetische Schichten II

DS 25.1: Vortrag

Donnerstag, 20. März 1997, 11:45–12:00, PC 7

Photoemissionsmikroskopie und Spektromikroskopie — •CH. Ziethen¹, O. Schmidt¹, G.H. Fecher¹, G. Schönhense¹, R. Frömter², C.M. Schneider², J. Kirschner², K. Grzelakowski³ und W. Swiech⁴ — ¹Johannes-Gutenberg-Universität, Institut für Physik, D-55099 Mainz — ²Max-Planck-Institut für Mikrostrukturphysik, Halle — ³FOCUS GmbH, Hünstetten — ⁴MRL, University of Illinois, Urbana

Unter Verwendung durchstimmbarer Röntgenstrahlung (BESSY, ESRF) wurde ein neuartiges Photoemissionselektronenmikroskop (FOCUS IS-PEEM) eingesetzt, um Elementverteilungen zu charakterisieren. Anhand von Beispielen (Fe₃O₄ auf MgO, Permalloy auf Si) wird gezeigt, wie damit Defekte in dünnen Schichten und Diffusionsvorgänge auf Oberflächen untersucht werden können. Eine weitergehende chemische Analyse der Probenoberfläche im µm-Bereich ist durch Aufnahme von Absorptionsspektren möglich (µ-XAS). Dabei findet ein integrierendes Videosystem Verwendung. In einem Ausblick wird gezeigt, welche Möglichkeiten sich hiermit bieten, magnetische Mikrostrukturen zu erforschen.