Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Downloads | Hilfe
DS: Dünne Schichten
DS 33: Postersitzung
DS 33.33: Poster
Dienstag, 18. März 1997, 16:15–17:45, Aula
Charakterisierung verschiedener Bornitrid-Phasen mit Hilfe der kantennahen Feinstruktur in Elektronenenergieverlustspektren — •M. Wibbelt1, P. Redlich2, and H. Kohl1 — 1Physikalisches Institut der Universit"at M"unster, Wilhelm-Klemm-Str. 10, D-48149 M"unster — 2Max-Planck-Institut f"ur Metallforschung, Institut f"ur Werkstoffwissenschaft, Seestra"se 92, D-70174 Stuttgart
Die kantennahe Feinstruktur (ELNES) der Absorptionskanten in den Elektronenenergieverlustspektren (EELS) enth"alt Informationen "uber die Bindung und die elektronische Struktur des untersuchten Festk"orpers. In vielen Materialien lassen sich zudem Aussagen "uber die Bindungsl"ange, die Koordination und die Art der n"achsten Nachbaratome machen. Am Beispiel des st"ochiometrischen III-V-Werkstoffes Bornitrid (BN) werden Vergleiche an der BK- und der NK-Ionisationskante in Simulation und Experiment vorgestellt. F"ur die Simulationsrechnungen wurde ein von Durham et al. [1] und Vvedensky et al. [2] entwickeltes Fortranprogramm auf der Grundlage der elastischen Vielfachstreuung von Elektronen verwendet.
[1] P. J. Durham et al., Comp. Phys. Comm. 25, 193-205 (1982)
[2] D. D. Vvedensky et al., Comp. Phys. Comm. 40, 401-440 (1986)