Parts | Days | Selection | Search | Downloads | Help

DS: Dünne Schichten

DS 33: Postersitzung

DS 33.5: Poster

Tuesday, March 18, 1997, 16:15–17:45, Aula

Untersuchung dünner Metall-Mischfilme mit dem optischen Nahfeldmikroskop — •J. Koglin, N. Hagedorn, U.C. Fischer und H. Fuchs — Physikalisches Institut, WWU Münster, Abt. Grenzflächenphysik, Wilhelm-Klemm-Str. 10, D-48149 Münster

Mit Hilfe der optischen Nahfeldmikroskopie (SNOM) mit der Tetraedersonde lassen sich die verschiedenen Materialien eines Ag/Au-Filmes mit einer Auflösung von 1 nm darstellen [1,2]. Diese SNOM-Messungen liefern bei λ = 635 nm einen spezifischen nahfeldoptischen Kontrast, der sich durch die unterschiedlichen Dielektrizitätskonstanten von Silber und Gold erklären läßt. Wir erwarten, daß mit der Tetraedersonde auch an anderen metallischen Mischfilmen ein Materialkontrast mit ähnlich hoher Auflösung erzielt werden kann.
Als erste Anwendung untersuchen wir Co/Pt-Filme, die aufgrund ihrer magneto-optischen Eigenschaft zunehmend an Bedeutung gewinnen, auf ihre Materialverteilung. Bei Verwendung verschiedener Wellenlängen erwartet man einen Kontrast, der die spektroskopischen Eigenschaften der Probenmaterialien mit hoher lateraler Auflösung zeigt.

[1] J. Koglin, Optische Nahfeldmikroskopie mit der Tetraedersonde, Dissertation, WWU Münster (1996) / ISBN 3-8265-1681-8, Shaker Verlag Aachen (1996)

[2] J. Koglin, U.C. Fischer, H. Fuchs, Die Tetraedersonde, Phys. Bl. 52 (1996) Nr. 12