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HL: Halbleiterphysik

HL 11: Poster I

HL 11.68: Poster

Monday, March 17, 1997, 15:30–18:30, Z

Herstellung von SNOM-Spitzen — •F. Poser, D. Pahlke, C. Gremzow, N. Esser und W. Richter — Institut für Festkörperphysik, Technische Universität Berlin, Hardenbergstraße 36, D-10623 Berlin

In der Scanning-Nearfield-Optical-Microscopy (SNOM) werden im Allgemeinen gezogene und bedampfte Glasfaserspitzen als Sonden verwendet. Mit diesen Sonden kann sowohl die Topographie (über shear-force Detektion) als auch die Wechselwirkung der Probe mit Licht in einer Größenordnung von weniger als 100 nm untersucht werden. An die Glasfaserspitzen werden daher besondere Anforderungen hinsichtlich Symmetrie, Spitzendurchmesser (Apertur) und Spitzenlänge gestellt. Wir haben eine Faserziehapparatur entwickelt, die durch die Optimierung der Vielzahl ihrer Parameter (Zugspannung, Laserleistung, Laserintervalle, Pulsform und Fokussierung) eine reproduzierbare Herstellung von Faserspitzen ermöglicht. So wurden die Laserpulsformen und die Laserleistung derart angepaßt, daß die so gezogenen Spitzen entscheidend kürzer sind als herkömmliche Spitzen. Dadurch wurde eine Erhöhung des Transmissionsvermögens der Spitzen erreicht. Nach Bedampfung in einer ebenfalls entwickelten Aufdampfanlage zeigen erste Messungen an HL-Proben die Qualität der Spitzen.