Münster 1997 – wissenschaftliches Programm

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HL: Halbleiterphysik

HL 2: Störstellen I

HL 2.2: Vortrag

Montag, 17. März 1997, 10:45–11:00, H1

Bestimmung von absoluten Leerstellenkonzentrationen in Halbleitern mit Hilfe der Positronenannihilation — •Reinhard Krause-Rehberg und Hartmut S. Leipner — Univ. Halle, FB Physik, 06099 Halle

Die Positronenannihilation hat sich in den letzten Jahren als Methode zur Untersuchung von Leerstellendefekten in Halbleitern bewährt. Alle Techniken dieser Methode liefern als experi- mentelles Ergebnis die Positroneneinfangrate, die proportional zur Leerstellenkonzentration ist. Die Proportionalitätskonstan- te, die man Einfangkoeffizient oder spezifische Einfangrate nennt, muss durch Referenzmethoden bestimmt werden. Der Beitrag gibt eine Übersicht über die bisher bekannten Werte für Ele- ment- und Verbindungshalbleiter, wobei nur solche Werte berück- sichtigt wurden, bei denen die Referenzmethode zur unabhängigen Bestimmung der Defektkonzentration an genau derselben Probe angewandt wurde. Der Einfluss der Ladung der Leerstelle und deren mögliche Abschirmung werden zusammen mit der Temperaturabhän- gigkeit des Positroneneinfanges diskutiert. Der Empfindlichkeits- bereich der Positronenannihilation für die verschiedenen La- dungszustände wird auf der Grundlage der bestimmten Einfang- koeffizienten angegeben.