Münster 1997 – wissenschaftliches Programm

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M: Metallphysik

M 14: Texturen II

M 14.7: Vortrag

Mittwoch, 19. März 1997, 16:50–17:10, S 6

Texturanalyse dünner Schichten — •K. Helming — Institut für Metallkunde und Metallphysik, TU Clausthal

Technische Werkstoffe verfügen häufig über einen bezüglich der Textur heterogenen Probenaufbau. Selbst einphasige Werkstoffe können zum Beispiel nach dem Kaltwalzen gestörte Bereiche aufweisen (Deformations - und Scherbänder), die Gebiete homogener Textur voneinander abgrenzen. Obwohl diese Grenzbereiche oft nur einen Bruchteil des Gesamtvolumens umfassen, können sie die makroskopischen Eigenschaften des Werkstoffs entscheidend beeinflussen. Ihre Textur kann wesentliche Informationen über den texturmodifizierenden Prozeß enthalten. Die Beschreibung der Textur mit wenigen Komponenten ermöglicht auch Texturabschätzungen anhand von Polfigurdaten, die hinsichtlich Qualität und/oder Quantität stark eingeschränkt sind. Beispiele hierfür sind an Deformations- und Scherbändern (Messing, Titan) gemessene TEM-Polfiguren oder röntgenographische Polfiguren dünner oberflächennaher Diamantschichten auf Silizium.