Münster 1997 – wissenschaftliches Programm

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M: Metallphysik

M 14: Texturen II

Mittwoch, 19. März 1997, 14:30–17:30, S 6

	14:30	M 14.1	Einzelorientierungsbestimmung im REM bei Heizversuchen zur Rekristallisation von Kupfer — •F. Springer and M. Radomski
	14:50	M 14.2	Untersuchung der Elektromigration in Al-Leiterbahnen mittels Orientierungsmapping am REM — •M. Lepper, A. von Glasow und R. Schwarzer
	15:10	M 14.3	Anwendung eines Elektrolumineszenzdetektors zur Texturanalyse mit Spektralentflechtung — •S. Sack, H. Klein und H.J. Bunge
	15:30	M 14.4	Ortsaufgelöste Textur- und Mikro-Röntgenfluoreszenz-Analyse (MRFA) mittels energiedispersiver Beugung — •A. Fischer und A. Landa
	15:50		20 min. break
	16:10	M 14.5	Anwendung einer Kapillarblende zur Intensitätsverbesserung bei der ortsaufgelösten Texturanalyse — •H. Klein und H.J. Bunge
	16:30	M 14.6	Feinbereichs-Polfigurmessung mit einem CCD-Flächendetektor im TEM — •B. Schäfer
	16:50	M 14.7	Texturanalyse dünner Schichten — •K. Helming
	17:10	M 14.8	Hochaufgelöste Texturanalyse mit einem Flächendetektor — •H. Klein und H.J. Bunge