Münster 1997 – wissenschaftliches Programm
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M: Metallphysik
M 14: Texturen II
M 14.8: Vortrag
Mittwoch, 19. März 1997, 17:10–17:30, S 6
Hochaufgelöste Texturanalyse mit einem Flächendetektor — •H. Klein und H.J. Bunge — Institut für Metallkunde und Metallphysik, Technische Universität Clausthal, Großer Bruch 23, D-38678 Clausthal–Zellerfeld
Flächendetektoren sind in der Lage die Position eines einfallenden Röntgenphotons mit einer Genauigkeit von theoretisch 0.1o in beide Raumrichtungen zu bestimmen [1,2,3]. Der Flächendetektor ”sieht” auf diese Weise ca. 70o von den unterschiedlichen Debye Scherrer Ringen zur gleichen Zeit. Jeder dieser Debye Scherrer Ringe entspricht einem Bogenelement in einer Polfigur. Das Winkelauflösungsvermögen, von ca. 0.1o, entlang eines solchen Bogenelements der Polfigur ist um ein Vielfaches besser als das, das mit konventionellen Verfahren mit Szintillationszählern oder linearen Detektoren erreicht werden kann [3]. Durch die herausragende Eigenschaft der hohen Auflösung eignet sich der Flächendetektor besonders für Messungen mit extrem scharfen Poldichteverteilungen, wie z.B. die von epitaktischen Schichten auf Einkristallen oder von ”multi-peak” Texturen, dazu werden Beispiele gezeigt, die an unterschiedlichen Materialien gemessen wurden.
[1] K.L. Smith, R.B. Ortega, Adv. X-Ray Anal. 36(1993) 641 - 647
[2] H. Klein, N.J. Park, C.U. Nauer-Gehrhardt, Z. Metallkd. 85 (1994) 574 - 580
[3] H.J. Bunge, H. Klein, Z. Metallkd. 85 (1996) 465 - 475