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M: Metallphysik

M 14: Texturen II

M 14.8: Vortrag

Mittwoch, 19. März 1997, 17:10–17:30, S 6

Hochaufgelöste Texturanalyse mit einem Flächendetektor — •H. Klein und H.J. Bunge — Institut für Metallkunde und Metallphysik, Technische Universität Clausthal, Großer Bruch 23, D-38678 Clausthal–Zellerfeld

Flächendetektoren sind in der Lage die Position eines einfallenden Röntgenphotons mit einer Genauigkeit von theoretisch 0.1^o in beide Raumrichtungen zu bestimmen [1,2,3]. Der Flächendetektor ”sieht” auf diese Weise ca. 70^o von den unterschiedlichen Debye Scherrer Ringen zur gleichen Zeit. Jeder dieser Debye Scherrer Ringe entspricht einem Bogenelement in einer Polfigur. Das Winkelauflösungsvermögen, von ca. 0.1^o, entlang eines solchen Bogenelements der Polfigur ist um ein Vielfaches besser als das, das mit konventionellen Verfahren mit Szintillationszählern oder linearen Detektoren erreicht werden kann [3]. Durch die herausragende Eigenschaft der hohen Auflösung eignet sich der Flächendetektor besonders für Messungen mit extrem scharfen Poldichteverteilungen, wie z.B. die von epitaktischen Schichten auf Einkristallen oder von ”multi-peak” Texturen, dazu werden Beispiele gezeigt, die an unterschiedlichen Materialien gemessen wurden.

[1] K.L. Smith, R.B. Ortega, Adv. X-Ray Anal. 36(1993) 641 - 647

[2] H. Klein, N.J. Park, C.U. Nauer-Gehrhardt, Z. Metallkd. 85 (1994) 574 - 580

[3] H.J. Bunge, H. Klein, Z. Metallkd. 85 (1996) 465 - 475