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Münster 1997 – scientific programme

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O: Oberflächenphysik

O 15: Raster-Kraft-Mikroskopie II

Tuesday, March 18, 1997, 09:30–11:15, BOT

09:30 O 15.1 Ein Tieftemperatur-Rasterkraftmikroskop mit interferometrischer Auslenkungsdetektion — •R. Euler, U. Memmert und U. Hartmann
09:45 O 15.2 True atomic resolution on the surface of an insulator via ultrahigh vacuum dynamic force microscopy — •M. BAMMERLIN, R. LÜTHI, E. MEYER, J. LÜ, M. GUGGISBERG, T. LEHMANN, L. HOWALD, and H.-J. GÜNTHERODT
10:00 O 15.3 LOCAL CONTACT POTENTIAL MEASUREMENTS ACROSS STEPS OF THE Si(111)7×7 SURFACE IN ULTRAHIGH VACUUM — •M. GUGGISBERG, M. BAMMERLIN, R. LÜTHI, F. BATTISTON, J. LÜ, C. LOPPACHER, E. MEYER, and H.-J. GÜNTHERODT
10:15 O 15.4 Vergleichende quantitative Lateralkraftmikroskopie auf Kohlenstoffverbindungen an Luft und in Argon-Schutzgasatmosphäre — •U. D. Schwarz, O. Zwörner, P. Köster, and R. Wiesendanger
10:30 O 15.5 Ein Modell zum Lateralkraftmikroskop — •H. Hölscher, U. D. Schwarz, and R. Wiesendanger
10:45 O 15.6 Spektroskopische Messungen und chemische Identifizierung an Nanogrammproben mittels Magnetresonanzkraftmikroskopie — •D. Pudlatz und H. Fuchs
11:00 O 15.7 Scanning Electrical Force Microscopy und deren Anwendung — •F. Müller, A.-D. Müller und M. Hietschold
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