O 2: Zeitaufgelöste elektronische Struktur
  Montag, 17. März 1997, 09:30–11:15, S 1
  
    
  
  
    
      
        
          
            
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          09:30 | 
          O 2.1 | 
          
            
            
              
                Echtzeituntersuchung der Lebensdauer angeregter elektronischer Adsorbatzustände — •Michael Bauer, Susanne Pawlik und Martin Aeschlimann
              
            
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          09:45 | 
          O 2.2 | 
          
            
            
              
                Wechselwirkung zwischen Bildladungszuständen und Adsorbaten auf Cu(111), untersucht mit zeitaufgelöster Photoemission — •A. Hotzel, T. Hertel, E. Knoesel, M. Wolf und G. Ertl
              
            
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          10:00 | 
          O 2.3 | 
          
            
            
              
                Femtosekunden-Elektronendynamik in Co-Monolagen auf 
Cu(100) — •Martin Aeschlimann, Susanne Pawlik und Michael Bauer
              
            
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          10:15 | 
          O 2.4 | 
          
            
            
              
                Einflu"s verschiedener Adsorbatschichten auf die Lebensdauer der Bildladungszust"ande von Ru(001) — •W. Berthold, P. Feulner, and U. H"ofer
              
            
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          10:30 | 
          O 2.5 | 
          
            
            
              
                Einfluss der Schichtdicke auf die Relaxationsdynamik heisser Elektronen in Metallfilmen — •Susanne Pawlik, Michael Bauer, Martin Aeschlimann und Martin Wolf
              
            
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          10:45 | 
          O 2.6 | 
          
            
            
              
                Anregungsmechanismen, Transport und Relaxationsraten 
von heißen Elektronen in Kupfer — •E. Knoesel, A. Hotzel, M. Wolf und G. Ertl
              
            
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          11:00 | 
          O 2.7 | 
          
            
            
              
                Femtosekunden-Laserunterst"utzte Rastertunnelmikroskopie zur Untersuchung der elektronischen Dynamik an Halbleiteroberfl"achen — •W. Pfeiffer, V. Gerstner, A. Thon, and G. Gerber
              
            
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