Münster 1997 – wissenschaftliches Programm

Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Downloads | Hilfe

O: Oberflächenphysik

O 22: POSTER II

O 22.50: Poster

Mittwoch, 19. März 1997, 14:15–15:45, AULA

Auswirkungen der “Stick-Slip”-Bewegung in der Rasterkraftmikroskopie — •H. Hölscher, U. D. Schwarz, and R. Wiesendanger — Institut f"ur Angewandte Physik, Universit"at Hamburg, Jungiusstr. 11, D-20355 Hamburg

Mit einem im sogenannten “Kontaktmodus” betriebenen Rasterkraftmikroskop (scanning force microscope, SFM) können Oberflächenstrukturen mit atomarer Periodizität abgebildet werden. Allerdings sind die Abbildungseigenschaften eines SFM auf dieser Skala oft durch die “Stick-Slip”-Bewegung der Spitze eingeschränkt. Ein typisches Phänomen ist etwa, daß bei Kristallen mit nicht-trivialer Einheitszelle keine “Sub-Einheitszellen-Auflösung” erzielt werden kann, also nur die Periodizität der Einheitszelle abgebildet wird, deren innere Struktur aber unaufgelöst bleibt. Anhand eines Modells, das auf der Lösung vereinfachter Bewegungsgleichungen eines SFM beruht, können einige der beobachteten Phänome erklärt werden. Ausgehend von diesem Modell werden ferner Möglichkeiten diskutiert, wie die Abbildungseigenschaften eines SFM verbessert werden können.