Münster 1997 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 22: POSTER II

O 22.51: Poster

Mittwoch, 19. März 1997, 14:15–15:45, AULA

Kombinierte Rasterionenleitungs- und Scherkraftmikroskopie — •Jörg Kamp, Harald Nitz und Harald Fuchs — Physikalisches Institut, WWU Münster, 48149 Münster

Es wurde eine Kombination aus einem Rasterionenleitungsmikroskop (RILM) und einem Scherkraftmikroskop (SKM) aufgebaut, um die geringe laterale Empfindlichkeit des RILM zu kompensieren. Damit ist es möglich, die zerbrechliche Spitze in konstantem Abstand zerstörungsfrei über eine Oberfläche zu führen, und gleichzeitig die Probentopographie (SKM) und lokale Ionenströme über einer Oberfläche (RILM) zu messen. Als Sonde dient eine Borosilikatglas-Mikropipette (Innendurchmesser < 60nm). Diese wird mit einem Vibrationspiezo in eine laterale Schwingung versetzt und die Dämpfung der Amplitude beim Annähern an eine Oberfläche optisch gemessen. Es können Stromänderungen im Pikoamperebereich detektiert werden. Typische Anwendungsbeispiele sind poröse Proben unterschiedlichster Konsistenz. Glimmerproben (Porengröße 100nm) und Polycarbonatmembranen (Porengröße 200nm) wurden mit dem kombinierten Meßverfahren untersucht. In beiden Fällen konnte ein erhöhter Ionenfluß durch die Poren nachgewiesen werden.