Münster 1997 – wissenschaftliches Programm
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O: Oberflächenphysik
O 22: POSTER II
O 22.61: Poster
Mittwoch, 19. März 1997, 14:15–15:45, AULA
Zweidimensionale Computersimulation des AFM-Abbildungs-prozesses: Einflu"s atomarer stick-slips auf die laterale Aufl"osung — •U. v. Toussaint1, Th. Schimmel1, and J. K"uppers2 — 1Institut f"ur Angewandte Physik, Universit"at Karlsruhe, D-76128 Karlsruhe — 2Experimentalphysik VI, Universit"at Bayreuth, D-95440 Bayreuth
Mit Hilfe von zweidimensionalen Computersimulationen wurde die Cantileverbewegung beim Rasterkraftmikroskop auf atomarer Skala untersucht. Dabei wurde der Einflu"s unterschiedlicher Cantileverfederkonstanten auf die laterale Aufl"osung beim Abbildungsproze"s untersucht. Zus"atzlich wird die Abh"angigkeit des Anteils der von der AFM-Spitze abgetasteten und der durch stick-slip-Prozesse "ubersprungenen Bereiche von Gitterstruktur (quadratische und hexagonale Gitter) und Cantilever vorgestellt. Mit abnehmender Federkonstante w"achst der Anteil des "ubersprungenen Gebietes an der Scanfl"ache. Der Einflu"s des Scanwinkels auf die Bildinformation wird in Simulationsrechnungen gezeigt und im Rahmen eines einfachen Modells erkl"art.