Münster 1997 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 34: Oberflächenmagnetismus

O 34.12: Vortrag

Donnerstag, 20. März 1997, 18:45–19:00, S 1

Untersuchungen zur Abhängigkeit des Auflösungsverhaltens von Schreib/Lese-Köpfen vom Polschuhversatz — •F. Krause¹, G. Persch², and U. Hartmann¹ — ¹FR Experimentalphysik, Universität des Saarlandes, D-66041 Saarbrücken — ²IBM Speichersysteme Deutschland GmbH, D-55015 Mainz

Die hohen Speicherdichten in modernen Magnetplattenspeichern können nur durch Optimierung aller Einzelkomponenten und durch Optimierung des Kopf/Platte-Interfaces erreicht werden. Im Bezug auf das Auflösungsvermögen ist für das Interface vor allem der "‘magnetische"’ Abstand zwischen Schreib/Lese-Kopf und Magnetschicht der Dünnfilmplatte ausschlaggebend. Dieser Abstand setzt sich aus der Flughöhe, der Dicke der Kohlenstoffschutzschichten auf Platte und Kopf und aus dem Polschuhversatz zusammen. Mit letzterem wird die Zurückversetzung der funktionellen Elemente gegenüber der Oberfläche des Dünnfilmkopfes bezeichnet. Der Einfluß der nur wenige nm betragenden Vertiefung und der Kohlenstoffschicht auf dem Schreibkopf wird mit Hilfe von AFM und Plattentestern untersucht. Der Versatz läßt sich durch Sputterätzen variieren. Auf diese Weise wird eine Matrix mit unterschiedlichen Versatzwerten erzeugt. Das Auflösungsvermögen des Kopfes nimmt mit steigendem Versatz deutlich ab.