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O: Oberflächenphysik

O 4: Raster-Kraft-Mikroskopie I

O 4.2: Talk

Monday, March 17, 1997, 09:45–10:00, BOT

Aufbau eines Rasterkraftmikroskops mit Faserkopplung und Lichtzeigerdetektion — •R. Steinkampf, S. Lukas, R. Houbertz und U. Hartmann — FR Experimentalphysik, Universität des Saarlandes, D-66041 Saarbrücken

Es wurde ein Rasterkraftmikroskop mit Lichtzeigerdetektion für tribologische Untersuchungen unter Atmosphärenbedingungen aufgebaut. Ähnlich dem Aufbau der meisten Interferometertypen wird dabei Licht der Wellenlänge 670 nm in einer Glasfaser zum Cantilever geführt. Das Faserende zeigt jedoch unter einem Winkel von etwa 20^∘ auf den Cantilever und ist 150-200 µm von diesem entfernt. Ziel dabei ist es, ohne weitere optische Komponenten den Strahldurchmesser auf dem Cantilever so klein zu halten, daß störende Reflexionen von der Probenoberfläche vermieden werden, und die Justage des Lichtspots über einen x-y-z-Verschiebetisch möglichst einfach zu gestalten. Die Annäherung der Probe an die Cantilever erfolgt über einen piezoelektrischen Reibungsschrittmotor, auf dem der Rasterpiezo montiert ist. Der Aufbau wird hinsichtlich seiner Empfindlichkeit an Hand erster Testmessungen diskutiert.