O 41: Nanostrukturen
Friday, March 21, 1997, 11:15–13:00, PC 4
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11:15 |
O 41.1 |
Nanostrukturierung und Charakterisierung von Brücken- und Doppelbrückenstrukturen mittels Rastersondenverfahren — •A. Drechsler und U. Hartmann
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11:30 |
O 41.2 |
Atomlithographische Erzeugung von Nanostrukturen — •Th. Schulze, U. Drodofsky, J. Stuhler, B. Brezger, T. Pfau und J. Mlynek
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11:45 |
O 41.3 |
Elementare Schritte der Manipulation einzelner Atome/Moleküle mit dem Tieftemperatur-STM — •Ludwig Bartels, Gerhard Meyer und Karl-Heinz Rieder
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12:00 |
O 41.4 |
Elektrische Eigenschaften mit Rastertunnellithographie hergestellter metallischer Leiterbahnen — •J. Kretz, I. Mönch, H. Vinzelberg, H. Brückl und G. Reiss
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12:15 |
O 41.5 |
Einfluß der Topographie auf die Adhäsion bei Messungen mit dem AFM — •Th. Stifter, E. Weilandt und O. Marti
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12:30 |
O 41.6 |
Herstellung von Nano-Dot-Arrays mittels Nanokugellithographie und Charakterisierung mittels Rastersondenmikroskopie — •M. Kleiber, M. Winzer, N. Dix und R. Wiesendanger
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12:45 |
O 41.7 |
Morphologie und optische Eigenschaften von Si-Nanostrukturen auf CaF2 — •A. Iline, M. Andersson, F. Stietz und F. Träger
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