Münster 1997 – wissenschaftliches Programm
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O: Oberflächenphysik
O 6: POSTER I
O 6.5: Poster
Montag, 17. März 1997, 14:15–15:45, AULA
Strukturmodifikation auf der TaTe2-(001)-Oberfl"ache in Abh"angigkeit von Auflagekraft und Rasterwinkel im Rasterkraftmikroskop — •W. Raberg, A. Hasbach, and K. Wandelt — Institut f"ur Phys. und Theor. Chemie, Universit"at Bonn, Wegelerstr. 12, 53115 Bonn
Mit Hilfe eines kombinierten AFM/STM-Ger"ates wurde unter Ultrahochvakuumbedingungen die atomare Struktur der Oberfl"ache des Schichtdichalkogenides TaTe2 untersucht. Die aus R"ontgenbeugungsmessungen erwartete Anordnung der Telluratome an der Oberfl"ache konnte sowohl mit dem AFM als auch mit dem STM beobachtet werden. Zus"atzlich wurde jedoch im Rasterkraftmikroskop eine Abh"angigkeit der gemessenen Struktur von der Auflagekraft sowie von der Scanrichtung gefunden. Die normale Struktur in Form von Dreierreihen geht hier unter bestimmten Bedingungen in eine hexagonale Form "uber. Der beobachtete Vorgang ist reversibel. Ein einfaches mechanisches Modell wird zur Erkl"arung dieses Effektes aufgestellt und die Ergebnisse werden mit Beobachtungen aus der Literatur verglichen.