Münster 1997 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O VIII: HV VIII

O VIII.1: Hauptvortrag

Donnerstag, 20. März 1997, 10:15–11:00, S 10

STM an Mehrkomponenten Oberflächen — •P. Varga — Institut für Allgemeine Physik, T.U.Wien, A-1040 Wien

Am Beispiel von Pt-Legierungseinkristallen soll gezeigt werden, daß mit hochauflösender Rastertunnelmikroskopie sowohl atomare als auch auf Grund von unterschiedlichen „scheinbaren Höhen“ der Atome, chemische Auflösung erreicht werden kann. Diese bedarf entweder spezieller Spitzenbedingungen (wie z.B.bei PtNi), oder ist mit jeder Spitze nur bei bestimmten Tunnelparametern erzielbar (wie bei PtRh) oder ist unter allen Bedingungen immer vorhanden (z.B.bei PtCo). Um den Kontrastmechanismus systematisch zu untersuchen, wurde für alle gemessenen Systeme auch die elektronische Struktur mit Hilfe der FLAPW Methode berechnet. Unter Zugrundelegung der Tersoff-Hamann Theorie wurde ein Vergleich zwischen gemessenen Konstanzstrom-Bildern und der „ab initio“ gerechneten lokalen Zustandsdichte an der Fermikante vor der Oberfläche durchgeführt. Bei den oben erwähnten Legierungsmetallen konnte eine qualitativ gute Übereinstimmung erzielt werden. Bei anderen Fragen (z.B Antikorrugation an FeSi, bzw. Kontrastmechanismus bei ultradünnen NaCl Schichten auf Al) war der Vergleich Grundlage für die Interpretation der STM Resultate.