Bayreuth 1998 – wissenschaftliches Programm

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K: Kurzzeitphysik

K 8: Hochleistungs-/Impulssysteme, pulsformende Elemente und Schalter

K 8.11: Vortrag

Donnerstag, 12. März 1998, 14:30–14:45, H8

Vergleichende Untersuchungen von Molybdän- und Siliziumkarbidelektroden in Pseudofunkenschaltern im Hinblick auf das Entladeverhalten — •J. Schwab, V. Arsov, Ch. Bickes, E. Dewald, U. Ernst, K. Frank, M. Iberler, J. Meier, U. Prucker, A. Rainer, M. Schlaug, J. Urban, W. Weisser und D.H.H. Hoffmann — Phys. Inst. I, Univ. Erlangen-Nürnberg, Erwin-Rommel-Str. 1, D-91058 Erlangen

Durch den Einsatz von Siliziumkarbid als Elektrodenmaterial kann die Erosion der Elektroden in Pseudofunkenschaltern im Vergleich zu Metallen stark eingschränkt werden. Dies wird auf den deutlich größeren Entladungsquerschnitt bei Siliziumkarbid gegenüber Metallen zurückgeführt. Im Rahmen dieser Arbeit wurden die Ursachen bzw. Mechanismen dieser materialspezifischen, diffuseren und homogeneren Entladung untersucht. Dazu wurden mit elektrischen und optischen Diagnostikmethoden Molybdän- und Silizumkarbidelektroden im Hinblick auf ihr Entladeverhalten verglichen. Besonderes Interesse galt dabei den einzelnen Entladephasen und der Spannungsfestigkeit. Die Resultate zeigen ein in weiten Bereichen grundlegend anderes Entladeverhalten von Metall- und Halbleiterelektroden. Mögliche Ursachen für diese Unterschiede sollen aufgezeigt werden. Dabei wird vorwiegend der Einfluß materialtypischer Eigenschaften wie γ-Koeffizienten, Dielektrizitätskonstanten, Wärmeleitfähigkeit, etc. diskutiert.
Gefördert durch BMBF FKZ 13N6803