Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

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HL: Halbleiterphysik

HL 22: Grenz-/Oberfl
ächen

HL 22.7: Vortrag

Dienstag, 24. März 1998, 17:30–17:45, H17

Hochaufgelöste XPS-Untersuchungen an CdS-Nanopartikelschichten — •U. Winkler, D. Eich, Z. Chen, R. Fink und E. Umbach — Experimentelle Physik II, Universität Würzburg, Am Hubland, D-97074 Würzburg

Die Oberflächenzusammensetzung unterschiedlich großer CdS-Nanopar-tikel wurde durch hochauflösende Photoelektronenspektroskopie mit Synchrotronstrahlung bei BESSY in Berlin untersucht. Die Nanopartikel (mittlere Durchmesser ca. 2.5, 4 und 6 nm) wurde unter Verwendung organischer Substanzen (Thiole) als Stabilisatoren naßchemisch hergestellt und als ca. 1000 nm dicke Schichten auf eine Goldfolie aufgebracht. Die Analyse der S 2p-Photoelektronenspektren zeigt die Existenz mehrerer Schwefelkomponenten. Deren Intensitäten ändern sich beim Übergang von volumen- zu oberflächenempfindlichen Messungen deutlich. Dadurch wird eine eindeutige Identifizierung der verschiedenen Schwefelspezies (Volumen-Schwefel, Oberflächen-Schwefel und Thiole) möglich. Die Bindungsenergien der Oberflächenschwefelatome sind dabei von der Teilchengröße abhängig. Die entsprechenden Cd 3d-Spektren bestehen ebenfalls aus mehreren Komponenten, die allerdings nur eine schwache Oberflächenempfi! ndlichkeit zeigen. Die Ergebnisse deuten somit auf eine im wesentlichen mit Schwefel terminierte Oberfläche der Partikel hin.
(Gefördert im Rahmen des SFB 410, TP C5.)