Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

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HL: Halbleiterphysik

HL 24: Poster II

HL 24.119: Poster

Mittwoch, 25. März 1998, 10:30–19:00, A

Bestimmung der mikroskopischen Bloch-Oszillationsamplitude mittels THz-Emission — •S. Tolk¹, R. Martini¹, F. Wolter¹, H. T. Grahn², R. Hey², P. Haring Bolivar¹, and H. Kurz¹ — ¹Institut f"ur Halbleitertechnik II, RWTH Aachen, Sommerfeldstr. 24, D-52074 Aachen — ²Paul-Drude-Institut f"ur Festk"orperelektronik, Hausvogteiplatz 5-7, D-10117 Berlin

In zeitaufgel"osten THz-Emissionsexperimenten wird die mikroskopische Amplitude optisch angeregter Bloch Oszillationen in GaAs/AlGaAs-"Ubergittern gemessen. Mit Hilfe eines Modells f"ur die Emission koh"arenter Wellenpakete [1] l"a"st sich die elektronische Oszillationsamplitude aus der detektierten THz-Feldamplitude bestimmen. Die ermittelten Werte stimmen gut mit quantenmechanischen Berechnungen "uberein. Wie im semiklassischen Bild erwartet, wird beobachtet, da"s die r"aumliche Amplitude umgekehrt proportional zur Oszillationsfrequenz ist. Damit ist die maximale Ladungstr"agergeschwindigkeit vom anliegenden Feld unabh"angig, was den Bloch-Charakter dieser Oszillationen in "Ubergittern unterstreicht.

[1] K. Victor, et al., J.Opt.Soc. Am.B 11, 2470 (1994)