Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 34: Poster (II)

O 34.34: Poster

Donnerstag, 26. März 1998, 20:00–22:30, Bereich C

Rasterkraftmikroskopie an Ionen-induzierten Veränderungen in Lithiumfluorid-Kristallen — •Andreas Müller, Markus Bickel, Reinhard Neumann, Kurt Schwartz und Christina Trautmann — GSI Darmstadt Abt.: MF Planckstr. 1 D-64291 Darmstadt

Mit energiereichen Schwerionen (Ekin = 11.4 MeV/Nukleon) am Linearbeschleuniger UNILAC der Gesellschaft für Schwerionen- forschung GSI bestrahlte Lithiumfluorid-Einkristalle wurden mit Rasterkraftmikroskopie (RKM) untersucht. Die Ionenspuren sind leichter ätzbar als die intakte Umgebung und nehmen bei geringer Anätzung an einer senkrecht bestrahlten LiF- Oberfläche die Form inverser Pyramiden an. In manchen Fällen besitzen die Pyramidenwände feine parallele Terrassen. Im ungeätzten Zustand zeigt die Oberfläche zahlreiche runde Hügel mit Höhen von wenigen nm und Durchmessern zwischen ca. 40 und 80 nm. Die Befunde werden mit Ergebnissen verglichen, die durch andere Methoden gewonnen wurden.