Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 34: Poster (II)

O 34.37: Poster

Donnerstag, 26. März 1998, 20:00–22:30, Bereich C

Kombinierte RTM/SIMS Untersuchungen zur Modifizierung monomolekularer Schichtsysteme — •E. Göcke, C. Seidel und H. Fuchs — Physikalisches Institut, Universität Münster, Wilhelm-Klemm-Str.10, 48149 Münster

>Bei der Untersuchung von monomolekularen Schichtsystemen mit oberflächenanalytischen Verfahren findet eine Interaktion der verwendeten Mikrosonde (Ionensonde, Elektronensonde, Nanospitze) mit der Oberfläche statt. Dadurch kann es zur Modifikation oder Desorption von Schichtmolekülen kommen. Die Kenntnis dieser Oberflächenschädigung ist grundlegend für die Anwendung der angesprochenen Analyseverfahren bzw. gibt Aufschluß über die Verwendung der Sonden zur kontrollierten Strukturierung von molekularen Schichten. Unter diesem Aspekt sind bereits Kombinationsuntersuchungen mit SIMS, REM und RKM durchgeführt worden. Die hier vorgestellten Messungen mit einem VT-RTM zeigen Beispiele zur Modifikation an gutdefinierten SA- und LB-Schichten aus Silanen und Phospholipiden auf Gold und Silizium. Hierbei wurden sowohl mikroskopische als auch spektroskopische Untersuchungen (STM/STS) durchgeführt. >