Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm
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O: Oberflächenphysik
O 34: Poster (II)
O 34.42: Poster
Donnerstag, 26. März 1998, 20:00–22:30, Bereich C
Mikrotribologie mittels LFM — •T. Schneider, C. Polaczyk, J. Sch”ofer und E. Santner — Bundesanstalt f”ur Materialforschung und -pr”ufung, D - 12200 Berlin
W”ahrend die Tribologie, also die Untersuchung von Reibungs- und Verschleisserscheinungen, sich bisher haupts”achlich mit makroskopischen, technischen Systemen befasste, f”uhren sowohl die zunehmende Miniaturisierung von mechanischen Bauelementen als auch der Wunsch nach einem grundlegenden Verst”andnis der in einem Reibkontakt ablaufenden Mechanismen zu einem verst”arkten Einsatz der Lateralkraft-Mikroskopie (LFM). Aus dieser Motivation heraus haben wir LFM-Messungen an ein- und mehrphasigen technischen Keramiken (TiN, TiO2, SiC/TiC/TiB2) an Luft durchgef”uhrt. Diese zeigen f”ur die einzelnen Bestandteile verschieden große Lateralkr”afte, was f”ur makroskopische Reibkontakte die Problematik der Annahme eines einzigen Reibungskoeffizienten deutlich erscheinen l”asst. In einem makroskopischen Festk”orperkontakt gemessene Schwankungen der Reibkraft k”onnen also unter Umst”anden nicht mehr als Messfehler angesehen werden, sondern es muss von einem Variationsbereich der Reibungskraft ausgegangen werden.