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O: Oberflächenphysik

O 34: Poster (II)

O 34.55: Poster

Thursday, March 26, 1998, 20:00–22:30, Bereich C

Analyse nichtlinearer Effekte in der Modulations-Reibungsmikroskopie — •Achim Spychalski, Karsten Krischker, Thomas Göddenhenrich und Christoph Heiden — Institut für Angewandte Physik, Justus-Liebig-Universität Gießen, Heinrich-Buff-Ring 16, D-35392 Gießen

Das System eines schwingenden Mikrohebelarmes wird in der Modulations-Reibungsmikroskopie mittels Lock-In Technik eingesetzt. Die beim Übergang von Haft- zu Gleitreibung zu beobachtenden nichtlinearen Effekte werden im Zusammenhang mit dem verwendeten Meßverfahren und der Reibungswechselwirkung zwischen Spitze und Oberfläche diskutiert. Die Resultate tragen außer zum Verständnis der Bildkontrastgebung vor allem zu einem verbesserten Meßverfahren in der Modulations- Reibungsmikroskopie bei.