Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm
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O: Oberflächenphysik
O 34: Poster (II)
O 34.72: Poster
Donnerstag, 26. März 1998, 20:00–22:30, Bereich C
SNOM mit Normalkraftdetektion und geätzten, gebogenen Spitzen — •J. Francis Wolf1, Paul E. Hillner2, Roger Bilewicz1, Patrick Kölsch1 und Jürgen P. Rabe1 — 1Humboldt-Universität zu Berlin, Institut für Physik, Physik von Makromolekülen, Invalidenstr. 110, 10115 Berlin — 2Box 0450, University of California at San Francisco, San Francisco, CA 94143-0450, USA
Es wird ein optisches Rasternahfeldmikroskop (SNOM) vorgestellt, das mit Normalkraftdetektion und gebogenen Faserspitzen arbeitet. Dadurch sind Betriebsmodi wie contact mode und tapping mode und die Verwendung von AFM-Spitzen möglich. Ein konfokales optisches Mikroskop ist ebenfalls integriert. Die SNOM-Spitzen werden geätzt, um Aperturen mit hohen Transmissionen herzustellen. Außerdem werden die Faser durch Ätzen abgedünnt, um Parameter wie Kraftkonstante und Resonanzfrequenz der Kantilever zu optimieren. So sind z.B. Spitzen mit Resonanzfrequenzen von 300 kHz und Q-Faktoren von 90 hergestellt worden.