Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Downloads | Hilfe

SYC: Symposium Raster-Sonden-Mikroskopie und -Spektroskopie bei tiefen Temperaturen

SYC 5: Poster

SYC 5.1: Poster

Dienstag, 24. März 1998, 17:00–19:00, A

Design eines temperaturvariablen Rasterkraftmikroskops zur Charakterisierung organischer Proben — •J. H. M"uller, U. D. Schwarz, and R. Wiesendanger — Institut f"ur Angewandte Physik, Universit"at Hamburg, Jungiusstr. 11, D-20355 Hamburg

Mit dieser Instrumentierung wird ein neuartiges Rasterkraftmikroskop vorgestellt, welches speziell f"ur die Abbildung von weichen, biologischen Proben optimiert ist. Erst bei tiefen Temperaturen sind die Bewegungsfreiheitsgrade biologischer Systeme so reduziert, da"s eine hochaufl"osende Untersuchung, analog zu Festk"orperoberfl"achen, m"oglich wird.

Das auf einem kommerziellen Schwingungsd"ampfungssystem aufgebaute Kraftmikroskop ist in eine UHV-Anlage integriert, welche aus einer Probenschleuse und einer Analysekammer besteht. Die Schleuse gew"ahrleistet neben dem einfachen Spitzen- und Probentransfer auch Kompatibilit"at zu Kryo-REM/Kryo-TEM-Ger"aten, zwischen welchen die Probe in kaltem Zustand ausgetauscht werden kann. Ein Durchflu"skryostat k"uhlt die Probe auf die Temperatur des fl"ussigen Stickstoffs, w"ahrend die Spitze mit einem maximalen Bildbereich von 50 µm × 50 µm "uber die Probe gerastert wird. Zur Detektion der Cantileververbiegung wird ein Glasfaser-Interferometer verwendet; ein x-y-Stelltisch erlaubt die Positionierung der Spitze "uber einer beliebigen Probenstelle.