Q 30: Poster: Optische Technik
Dienstag, 16. März 1999, 16:30–18:30, PH
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16:30 |
Q 30.1 |
Zeitaufgelöste 3D-Multiphotonen-Fluoreszenz-Mikroskopie — •Markus Glatz
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Q 30.2 |
Ein hochgenaues Wavemeter für Cw-Laser — •Kai-Martin Knaak, Klaus Wendt und H.-Jürgen Kluge
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Q 30.3 |
FROG-Diagnostik mit hoher Dynamik — •Bärbel Langefeld, Ping Zhou und D. von der Linde
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Q 30.4 |
Fourier-Multiplex-Spektrometer für die Analyse von Laser-Impulsen — •S. Salewski, A. Stark, V.M. Baev und P.E. Toschek
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Q 30.5 |
Berechnung des elektrischen Feldes in der Umgebung von sub-λ-Strukturen — •Marco Vogt, Manfred Piringer, Susanne Quabis, Manfred Eberler, Oliver Glöckl, Ralf Dorn und Gerd Leuchs
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Q 30.6 |
Speckle-Auswertung bei einer Abstandsmessung mittels 2-Farben-Interferometrie — •Karl Walcher, Johannes Trautner, Gerd Leuchs und H.R. Telle
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Q 30.7 |
A Novel Scheme for the Detection of a Single Atom — •Torsten Bondo, Markus Hennrich, Axel Kuhn, and G. Rempe
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Q 30.8 |
Miniaturisierter Lasersensor zur Detektion von PAHs — •Dirk Scheel und Wolfgang Schade
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Q 30.9 |
Experimentelle Untersuchungen protonenausgetauscher, getemperter Streifenwellenleiter in MgO:LiNbO3 für den sichtbaren Wellenlängenbereich — •Matthias Will, Jens-Peter Ruske, E. Werner, Brit Zeitner, Matthias Rottschalk und Andreas Tünnermann
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Q 30.10 |
Investigations of the Optical and Electrical Properties of n-Si by Using Nd:YAG Laser — •Ahmed A. I. Khalil and M. Mounir
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Q 30.11 |
Effect of high Power CO2 Laser Pulses and Thermal Annealing on the electrical Properties of n-Si — •Ahmed A. I. Khalil and M. Mounir
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