Bonn 2000 – wissenschaftliches Programm

Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Downloads | Hilfe

MS: Massenspektrometrie

MS 3: Beschleunigermassenspektrometrie

MS 3.7: Vortrag

Dienstag, 4. April 2000, 15:30–15:45, HS VII

Messung von ²⁶Al bei tiefen Energien — •Jürgen A. Scheer¹, Stefan Jakob¹, Martin Suter¹ und Hans-Arno Synal² — ¹Institut für Teilchenphysik, ETH Hönggerberg, 8093 Zürich, Schweiz — ²Paul Scherrer Institut, c/o ETH Hönggerberg, 8093 Zürich, Schweiz

An der ETH Zürich ist eine neue AMS Anlage aufgebaut worden, die mit wesentlich tieferen Terminalspannungen als bisher üblich arbeitet und dementsprechend auch wesentlich kleiner ist. Diese Anlage ist primär für ¹⁴C-Messungen ausgelegt, und nun wird untersucht, inwiefern sie sich zur Analyse von ²⁶Al eignet. Erste Messungen bei einer Terminalspannung von 460 kV ergaben, dass Ausbeuten von etwa 30 % erreicht werden, was vergleichbar ist mit den Ausbeuten an Anlagen, die mit viel höherer Terminalspannung betrieben werden. Weiterhin zeigte sich, dass der molekulare Untergrund weitgehend eliminiert werden kann. Das Potential dieser neuen Anlage im Vergleich zu bereits bestehenden wird diskutiert.