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Regensburg 2000 – scientific programme

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DS: Dünne Schichten

DS 14: Schichtcharakterisierung I

Tuesday, March 28, 2000, 16:15–17:00, H31

16:15 DS 14.1 Fachvortrag: Blockingspektroskopie mit MeV Ionenstrahlen zur Charakterisierung kristalliner dünner Schichten und zur Lokalisierung von Fremdatomen in Einkristallen — •Hans Hofsäss, Carsten Ronning, Stefano Virdis, Michael Uhrmacher, Felix Harbsmeier, Sankar Dhar und Klaus-Peter Lieb
16:30 DS 14.2 Fachvortrag: Charakterisierung dünner SBT-Filme auf Elektroden mit Schichtstruktur mittels Röntgenreflektivität — •Markus Aspelmeyer, Uwe Klemradt und Günther Schindler
16:45 DS 14.3 Fachvortrag: Hochauflösende transmissionselektronenmikroskopische Untersuchung der Mikrostrukturen von IBAD-hergestellten biaxial texturierten YSZ- und laserdeponierten YBCO-Schichten — •L.O. Kautschor, J. Dzick, C. Jooss, J. Hoffmann und H.C. Freyhardt
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