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DS: Dünne Schichten
DS 23: Organische Schichten III
DS 23.2: Fachvortrag
Wednesday, March 29, 2000, 15:45–16:00, H31
Spektromikroskopie-Untersuchungen von entnetzenden Polymer-Dünnschichten — •R. Fink1, U. Groh1, E. Umbach1, K. Jacobs2, R. Seemann2, S. Anders3, A. Scholl3 und F. Nolting3 — 1Universität Würzburg, Experimentelle Physik II, Am Hubland, 97074 Würzburg — 2Universität Ulm, Angewandte Physik, Albert-Einstein-Allee 11, 89069 Ulm — 3Advanced Light Source, Berkeley, CA 94720
Die Photoelektronenemissionsmikroskopie (PEEM) hat sich durch die Verfügbarkeit kommerzieller Instrumente zu einer vielversprechenden Methode zur Oberflächenanalyse mit hoher Ortsauflösung entwickelt. Die Verwendung durchstimmbarer Synchrotronstrahlung ermöglicht zusätzlich zur Oberflächenabbildung den Zugang zu spektroskopischen Informationen, wobei insbesondere der Röntgenabsorptionskontrast nahe der Absorptionskante (NEXAFS) ausgenutzt wird. Am PEEM-II der Advanced Light Source wurden erste Untersuchungen zum Entnetzungsverhalten dünner Polymerfilme durchgeführt, mit dem Ziel, spektroskopische Unterschiede und Orientierungsinhomogenitäten in den Rändern von entnetzenden Polystyrol(PS)-Filmen nachzuweisen. Wir präsentieren erste (lateral) ortsauflösende Messungen (Δx≈45 nm) an PS-Dünnschichten, wobei die Kettenlänge, das Substrat und die Annealtemperaturen variiert wurden. Die PEEM-Resultate werden mit Ergebnissen aus der Rasterkraftmikroskopie verglichen.