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DS: Dünne Schichten
DS 25: Metallische Schichten
DS 25.1: Fachvortrag
Wednesday, March 29, 2000, 14:00–14:15, H32
Messung der Phononenzustandsdichte mit inelastischer kernresonanter Streuung an dünnen metallischen Schichten — •T. Ruckert1, W. Keune1, W. Sturhahn2 und E.E. Alp2 — 1Angewandte Physik, Univ. Duisburg, D-47048 Duisburg — 2Advanced Photon Source, Argonne National Laboratory, Argonne, IL 60439, USA
Die inelastische
kernresonante Streuung von
Synchrotronstrahlung der Kernresonanz des 57Fe bei 14.4125 keV kann
dazu genutzt werden,
direkt die eisenprojizierte Phononenzustandsdichte (DOS) zu messen. Diese
Methode erlaubt die
Bestimmung der DOS in sehr dünnen Filmen oder an Grenzflächen. Dazu
präparierten wir mittels
MBE im UHV amorphe Tb1−x57Fex-Legierungsfilme. Diese Proben
zeigen deutliche
Unterschiede in der Phononenzustandsdichte und dem Debye-Waller-Faktor in
Abhängigkeit von der
Konzentration. Um die DOS des Eisen in kristallinen Systemen speziell auch
an Grenzflächen zu
messen, präparierten wir epitaktische bcc-Fe/Cr(001)-Vielfachschichten
(200 Schichtpaare mit je 8
Monolagen) auf MgO(001). Dabei wurden 1 Å dicke
57Fe-Sondenschichten in der
Fe-Schichtmitte, an den Fe/Cr-Grenzflächen und zwischen Cr(001) plaziert,
um die DOS an
verschiedenen Stellen zu messen. Zusätzlich wurden epitaktische
Fe/Cr(001)-Legierungen mit 1at.%
und 3at.% Fe untersucht. Verglichen mit der DOS von massiven α-Fe
zeigt die DOS in diesen
Schichten eine deutliche Abhängigkeit von der Anzahl der Cr-Nachbaratome.
Anscheinend entwickelt
sich mit zunehmender Anzahl der Cr Nachbarn ein resonanter Fe-DOS-Peak mit
kleiner Dispersion.
Gefördert durch die DFG (Ke273/17-1).