Regensburg 2000 – wissenschaftliches Programm
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DS: Dünne Schichten
DS 38: Postersitzung
DS 38.43: Poster
Dienstag, 28. März 2000, 09:30–17:30, Poster B
Phononen im YHx-System — •M. Rode, H. Kierey, A. Jacob, U. Barkow und J. Schoenes — Institut für Halbleiterphysik und Optik, TU Braunschweig, Mendelssohnstr. 3, 38106 Braunschweig
Das System YHx (0 < x < 3) zeigt einen Metall-Halbleiter-Übergang, der in den letzten Jahren aufgrund seiner Anwendung bei schaltbaren Spiegeln große Beachtung gefunden hat. Bei epitaktisch auf BaF2 aufgewachsenen Y-Schichten sind spektroskopische Messungen im gesamten Bereich vom sichtbaren bis zum mittleren Infrarot sowohl in Reflektion als auch in Transmission möglich. Mit Hilfe der Fourier-Transformations-Infrarot– (FT-IR) und der Ramanspektroskopie können bei einem solchen System Aussagen über die Phononenenergien im Zentrum der Brillouinzone gewonnen werden.
Im Infraroten zeigen sich abhängig von der Wasserstoffkonzentration der Schichten in den Transmissions– und den Reflexionspektren deutliche Strukturen. Diese Konzentrationsabhängigkeit ist auch in den Ramanspektren wiederzufinden. Mit Hilfe gruppentheoretischer Methoden lassen sich diese Strukturen den verschiedenen Symmetrietypen der Phononen zuordnen. So sind Aussagen über die an der jeweiligen Schwingung beteiligten Atome der Einheitszelle möglich. Das Erscheinen von phononischen Linien in den FT-IR-Spektren läßt den Schluß auf starke ionogene Anteile in den Bindungen zwischen Y und H zu.